电镀膜厚仪-一六仪器-徐州测厚仪

     江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

  x射线荧光光谱测厚仪原理

    一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，徐州测厚仪，激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。

     它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生x射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，x射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。 k层电子被逐出后，其空穴可以被外层中 任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为k系谱线:由l层跃迁到k层辐射的x射线叫kα射线，由m层跃迁到k层辐射的x射线叫kβ射线……。

江苏一六仪器  涂镀层研发、生产、销售---企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

单镀层：zn， ni，cr，cu，ag，au，sn等。

双镀层：au/ni/cu，电镀膜厚仪，cr/ni/cu，au/ag/ni，sn/cu/brass，等等。

三镀层：au/ni/cu/abs，au/ag/ni/cu，镀层膜厚仪， au/ni/cu/fe，等等

一、功能

1. 采用 x 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足

gb/t 16921-2005 标准（等同 iso3497：2000、 astm b568 和 din50987）。

2.  镀层层数：多至 5 层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约 0.2—0.8毫米。

4. 测量时间：通常 30 秒。

5. 测量误差：通常小于 5%，视样品具体情况而定。

6. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。