江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
一六仪器 x荧光光谱测厚仪
镀层分析x射线荧光光谱特点
1.镀层分析快速、无损,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10s-1分钟,分析精度高。
2.可测试超薄的镀层。
3.可测试多镀层,分析精度远远高于其他测量方法。
4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定,选择合适的对比分析样品,就可以准确的分析出合金镀层的厚度。
5.对于样品可进行连续多点测量,适合分析镀层的厚度分布情况,并可以对样品的复杂面进行测量。
6.对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别
7.不可以测试超厚样品,普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。
8.可以对样品进行测试
9.属于对比分析仪器,测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,涂层测厚仪,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
x射线荧光光谱测厚仪原理
一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
它的能量是特征的,光谱膜厚仪,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,衢州测厚仪,便产生x射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,x射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。 k层电子被逐出后,光谱测厚仪,其空穴可以被外层中 任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为k系谱线:由l层跃迁到k层辐射的x射线叫kα射线,由m层跃迁到k层辐射的x射线叫kβ射线……。
江苏一六仪器 x荧光镀层测厚仪 一六仪器、一liu品质!各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系!
1x射线激发系统垂直上照式x射线光学系统空冷式微---型x射线管,be窗标准靶材:rh靶;任选靶材:w、mo、ag等功率:50w(4-50kv,0-1.0ma)-标准75w(4-50kv,0-1.5ma)-任选x射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸
2滤光片程控交换系统根据靶材,标准装备有相应的一次x射线滤光片系统二次x射线滤光片:3个位置程控交换,co、ni、fe、v等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口
3准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制多种规格尺寸准直器任选:-圆形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4测量斑点尺寸在12.7mm---距离时,测量斑点尺寸小至为:0.078x0.0---(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm---距离时,测量斑点尺寸大至为:0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器)
5x射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6样品室cmi900cmi950-样品室结构开槽式样品室开闭式样品室-样品台尺寸610mmx610mm300mmx300mm-xy轴程控移动范围标准:152.4x177.8mm任选:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-z轴程控移动高度43.18mmxyz程控时,152.4mmxy轴手动时,269.2mm-xyz三轴控制方式多种控制方式任选:xyz三轴程序控制、xy轴手动控制和z轴程序控制、xyz三轴手动控制
一六仪器有限公司(图)-光谱测厚仪-衢州测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司(www.16elite.com)是从事“测厚仪,标准片”的企业,公司秉承“诚信经营,用心服务”的理念,为您提供高的产品和服务。欢迎来电咨询!联系人:邓女士。
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