光谱膜厚仪-安徽测厚仪-一六仪器

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

 在我们的售前服务工作中，客户通常都会拿一些在其它机构或者仪器测量过的样品来与我们仪器进行测试结果对比，在确认双方仪器都是正常的情况下，会存在或多或少的差异，那么我们务---把这个差异的来源分析给客户，光谱膜厚仪，我们在分析之前首先要给客户解说测试的基本原理，告知此仪器为对比分析测试仪器，然后再谈误差来源，主要来源：

  1、标样：对比分析仪器是要求有越接近于需测试样品的标样，测试结果越接近实际厚度。确认双方有没有在标定和校正时使用标样？使用的是多少厚度的标样？

2、样品材料的详细信息：如ni/cu的样品，如果一家是按化学ni测试，一家是按纯ni测试；au/ni/cu/pcb样品，一款仪器受br干扰，一款仪器排除了br干扰。

   3、测量位置、面积：确定在同一样品上测试的是否同一位置，因为样品在电镀时因电位差不同，各部位厚度是有差异的；确认两款仪器测量面积的大小有多少差异。

4、样品形状：测量的样品是否是两款仪器都可测量，或者放置位置是否合适，如---面有无挡住设备接收。