测厚仪-一六仪器有限公司-光谱膜厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

x荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，荧光测厚仪，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。

　　测定部显示尽像的表示：x线照射部可由windows画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。

江苏一六仪器   x射线荧光光谱仪xtu/x-ray系列 

技术参数

x射线装置：w靶微---加强型射线管

准直器φ 0.05 mm  ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 准直器任意选择或者任意切换

近测距光斑扩散度：9%

测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，镀层测厚仪，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)

样品观察：1/2.5彩色ccd，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦

放大倍数：光学38-46x，数字放大40-200倍

随机标准片：十二元素片、ni/fe 5um、au/ni/cu 0.1um/2um 

其它附件：联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱