江苏一六仪器有限公司 x射线荧光光谱测厚仪
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---势:
下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽---范围0-90mm。
微---射线装置:可检测面积小于0.002m㎡的样品,可测试各微小的部件。
一六仪器 ---通力合作打造---x荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,膜厚测试仪,---------和变距设计,光谱测厚仪,多元efp算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例
测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。
测量注意事项:1.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
2.测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
3在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数
4.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,镀层膜厚仪,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
一六仪器_光谱测厚仪研发生产厂家一六仪器一liu品质,可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟,多小多复杂的样品轻松搞定,欢迎来电咨询!
常见几种测厚仪的工作原理是什么:
2、测厚仪原理--x射线测厚仪
x射线测厚仪:此类测厚仪利用的是当x射线穿透被测材料时,x射线强度的变化与材料厚度相关联的特性,从而测定材料的厚度,测厚仪,是一种非接触式的动态计量仪器。
3、测厚仪原理--超声波测厚仪
超声波测厚仪:这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲会发生反射而返回探头,通过准确测量超声波在材料中传播的时间,来计算被测材料的厚度。
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