测厚仪厂家-一六仪器-镇江测厚仪

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    2020-8-15

邓女士
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一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法

适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法

适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法

目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。

4.电解测厚法

此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。

5.测厚法

此种仪器价格昂贵,适用于一些特殊场合。









江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

目前,电镀膜厚仪,金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析(gd-oes)和x射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层,逐层溶解并进行测定,方法准确但费时费力,电镀测厚仪,尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂,价格又贵,属于典型破坏性样品检测,测量手段手段繁琐,速度慢,电解液耗损大,目---般很少应用。gd-oes方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层,再用发射光谱测定,这种方法可实现剖面或逐层分析,但测量重复性并不理想。


     江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

  x射线荧光光谱测厚仪原理

    一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,测厚仪厂家,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,镇江测厚仪,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。

     它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生x射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,x射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。 k层电子被逐出后,其空穴可以被外层中 任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为k系谱线:由l层跃迁到k层辐射的x射线叫kα射线,由m层跃迁到k层辐射的x射线叫kβ射线……。


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