电镀膜厚仪-宁波测厚仪-江苏一六仪器有限公司

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，光谱分析仪，24种元素 厚度检出限:0.005um

x射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对x射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是x射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，涂层测厚仪，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的x射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，这时原子被激发了，宁波测厚仪，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出x射线的形式放出能量。

x射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，电镀膜厚仪，它被激发后跃迁时放出的x射线的能量也是特定的，称之为特征x射线。通过测定特征x射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征x射线的强弱（或者说x射线光子的多少）则代表该元素的含量。

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x射线荧光膜厚测厚仪还应用于五金电镀厚度检测，首饰电镀厚度检测，电子连接件表层厚度检测，电镀液含量分析。电力行业高压开关柜用铜镀银件厚度检测，铜镀锡件厚度检测，航空材料金属镀层厚度检测。铜箔镀层厚度检测，光伏行业焊带铜镀锡铅合金厚度检测，铁镀铬 镀锌 镀镍厚度检测等。