光谱测厚仪-测厚仪-一六仪器

江苏一六仪器  x射线荧光镀层测厚仪  元素分析范围：氯（ci）- ---（u）   

                                                     厚度分析范围：各种元素及有机物 

     x射线荧光镀层测厚仪（国产）是一款针对金属电镀层（镀金、镀镍、镀锌、镀锡等）厚度的，通过x荧光照射出产品，每个元素反射出的二次特征谱线，通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度，完全达到无损、快速分析的效果，光谱测厚仪，产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业（铝平行管、电镀五金），连接器企业、开关企业等。

     x射线荧光镀层测厚仪---势

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，---测试点与光斑对齐

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

高分辨率探头使分析结果---

---的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

minimum  φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

鼠标可控制移动平台，鼠标---的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数

minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

一次可同时分析多达五层镀层

度适应范围为15℃至30℃

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

分析含量一般为2ppm到99.9%

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，电镀测厚仪，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

镀层厚度分析仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，x射线荧光法，β射线反向散射法，测厚仪，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中---种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

x射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆

层测厚时采用。