膜厚测试仪-一六仪器-济南测厚仪

江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，膜厚测试仪，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

x射线荧光光谱分析仪结构及组成：用x射线照射式样时，试样可以被激发出各种波长的荧光x射线，需要把混合的x射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的x射线的强度，以进行定性和定量分析，为此---的仪器叫x射线荧光光谱仪。由于x光具有一定的波长，同事又有一定能量，济南测厚仪，因此，x射线荧光光谱仪有2种基本类型：波长色散型（wd）和能量色散性（ed）。

波长色散型是由色散元件将不同波长的特征x射线衍射到不同的角度上，镀层分析仪，探测器需移动到想要的位置上来探测某---长能量的射线。而能量色散型，是由探测器本身的能量分辨本领直接探测x射线的能量。波长色散型谱线分辨本领高，而能量色散型可同时测量多条谱线的能量。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法

适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法

适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法

目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。

4.电解测厚法

此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。

5.测厚法

此种仪器价格昂贵，适用于一些特殊场合。