荧光测厚仪-测厚仪-一六仪器

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    2020-8-29

邓女士
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  • 主营产品|镀层测厚仪,光谱测厚仪,光谱测厚仪
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江苏一六仪器有限公司提供荧光测厚仪-测厚仪-一六仪器。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

xiao测量面积0.002m㎡  深凹槽20mm以上

镀层厚度分析仪测量原理与仪器

一. 磁吸力测量原理镀层厚度分析仪

磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系,这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪,只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型,所以磁性测厚仪应用广。测厚仪基本结构由磁钢,接力簧,标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后,将测量簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力,磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固---、不用电源,荧光测厚仪,测量前无须校准,价格也较低,很适合车间做现场控制。

二. 磁感应测量原理镀层厚度分析仪

采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测厚仪,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用---设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。磁性原理测厚仪可应用来测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。

三. 电涡流测量原理镀层厚度分析仪

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。

采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天---表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。








一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪 

应用于电子元器件,led和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,镀层分析仪,24种元素 厚度检出限:0.005umxiao测量面积0.002m㎡  深凹槽20mm以上

镀层厚度分析仪使用注意事项

1.仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。

2.镀层厚度分析仪为精密仪器,建议配备的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源(ups)。

3.镀层厚度分析仪应---注意与存在电磁的场合隔离开来。

4.仪器适合在10~40℃(50~104℉)的环境温度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间(非冷凝)。在操作过程中,环境温度和湿度应保持恒定。

5.仪器曝晒在阳光下时温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器,以避免高温对仪器造成损害。

6.为避免短路,严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器,电镀膜厚仪,请---关闭仪器并在重新使用前请---整体检查仪器。

7.镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和场合。

8.不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片,否则会造成读数错误。

9.不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果---的话,可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。


江苏一六仪器    x射线荧光镀层测厚仪 为大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析提供解决方案

x射线荧光光谱测厚仪操作流程:


1.打开仪器电源 开关

2.打开测试软件

3.联机

4.打开仪器高压钥匙,观察软件界面管流值不为0值且正常上升至1000左右

5.待机30分钟

6.打开测试腔放入标准元素片ag,通过调整移动平台滑轨和焦距旋钮使软件测试画面清晰

7.---峰位校正图标按照提示进行操作

8.根据已知样品信息新建(或选择)合适的产品程式

9.---资料图标,根据客户需求调整相关测量参数

10.放置样品:打开测试腔,将样品需要测试的一面大致朝向测试窗,边观察软件测试画面边通过移动平台滑轨微调测试位置



进而达到测试要求位置

11.调整焦距:使用仪器左侧焦距调整旋钮,使得软件测试画面尽可能清晰

12.开始测量:---开始测试图标,进行样品测试或者按动仪器前面板测试按钮进行样品测试

13.数据报告:对测量的数据结果进行对比和分析,判断数据是否正常,若出现异常可进行多次测量排除偶然误差

14.生成报告:---预览报告可以对测试报告内容和格式进行调整,还可以电子版保存报告和直接打印纸质报告

15.整理反馈:对测试结果进行分析和整理,可通过给出测试报告的形式与客户进行沟通和反馈



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