测厚仪-一六仪器有限公司-荧光测厚仪

仪一六仪器 快速---分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统，---的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析，

微---射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件.

测厚仪分类：

一、磁性式

二、涡电流式

三、红外测厚仪

四、电解式（库伦法）

五、金相测试法

六、非破坏荧光式（x光）

1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，光谱分析仪，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，光谱膜厚仪，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，荧光测厚仪，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

江苏一六仪器  ---通力合作打造---x荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统，---------和变距设计，多元efp算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

能量色散x射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级x射线。

它由高压发生器和x光管组成。后者功率较大，测厚仪，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的x射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。

能量色散x射线荧光光谱仪技术原理

能量色散x射线荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射，凡间是指能t局限在0.1^-100kev的光子。能量色散x射线荧光光谱仪与物质的互相效果首要有荧光、接收和散射三种。

能量色散x射线荧光光谱仪是由物质中的构成元素发生的特征辐射，经过侧里和剖析样品发生的x射线荧光，即可获知样品中的元家构成，获得物质成分的定性和定量信息。