光谱分析仪-一六仪器-威海测厚仪

江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。

波长色散型x射线荧光光谱仪的前---分和能量色散型x射线荧光光谱仪是一样的，x光管激发样品，检测器测量来自样品的射线，但波长色散型x射线荧光光谱仪的检测器和能量色散型x射线荧光光谱仪的检测器不同。波长色散型x射线荧光光谱仪的计策系统由一套准直器，衍射晶体和探测器组成，来自样品的特征谱线照射到镜头上，晶体将不同波长(能量)的谱线衍射到不同的方向，（相当于棱镜将复合光分解成不同的单色光），将检测器放置在一定的角度，就可测量某---长的谱线强度。将分光晶体和探测器装在测角仪上，使它在一定角度范围内转动，荧光测厚仪，一次测量不同波长长谱线的强度，使用这种形式的光谱仪称为顺序扫描式光谱仪。安装固定检测系统的称为同时式光谱仪，每一套检测系统都有自己的晶体和探测器，分别测量某一特定元素的谱线，各谱线的强度同时被测量，这就很容易理解为什么称它为固定道波长色散型光谱仪，另外也有固定式和转动式结合的仪器。x射线波长色散型光谱仪一般有光源（x-射线管）、样品室

分光晶体和检测系统等组成。

江苏一六仪器  涂镀层研发、生产、销售---企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

单镀层：zn， ni，cr，cu，ag，镀层测厚仪，au，sn等。

双镀层：au/ni/cu，cr/ni/cu，光谱分析仪，au/ag/ni，sn/cu/brass，等等。

三镀层：au/ni/cu/abs，au/ag/ni/cu， au/ni/cu/fe，等等

一、功能

1. 采用 x 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足

gb/t 16921-2005 标准（等同 iso3497：2000、 astm b568 和 din50987）。

2.  镀层层数：多至 5 层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约 0.2—0.8毫米。

4. 测量时间：通常 30 秒。

5. 测量误差：通常小于 5%，视样品具体情况而定。

6. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。