光谱分析仪-测厚仪-一六仪器1

江苏一六仪器    x荧光光谱测厚仪  涂镀层测厚

应用领域：广泛应用于线路板、引线框架及电子元器件接插件检测、镀纯金、k金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、手表、精密仪表制造行业、

钕铁硼磁铁上的ni/cu/ni/fendb、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测、卫浴产品、装饰把手上的cr/ni/cu/cuzn(abs)、电镀液的金属阳离子检测。

      江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，光谱分析仪，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。

测厚范围可测定厚度范围:取决于用户的具体应用。将列表可测定的厚度范围-基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。根据客户本身应用提供---的校正用标准样品。样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围:ti22–u92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正组成分析时，荧光测厚仪，可同时测定15种元素多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析-调整和校正功能系统自动调整和校正功能:校正x射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移谱峰计数时，峰漂移自动校正功能谱峰死时间自动校正功能谱峰脉冲堆积自动剔除功能标准样品和实测样品间，密度校正功能谱峰重叠剥离和峰形拟合计算-测量自动化功能(要求xy程控机构)鼠标控制测量模式:pointandshoot多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能-样品台程控功能(要求xy程控机构)设定测量点oneortwodatumn(reference)pointsoneachfile测量位置预览