镀层测厚仪-测厚仪-江苏一六仪器

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

选择elite（一六仪器）x射线荧光镀层测厚仪理由：

   根据ipc规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量pcb板上的au/pd/ni/cu，因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用au，pd，ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的au/pd/ni/base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以---镀层测量的准确性。

2、采用微---x射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微---x射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行测量。

3、elite（一六仪器）winftm---软件，具有---且界面友好、中英文切换，多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以word格式或excel格式输出、打印、保存。采用基本参数法（fp），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 elite（一六仪器）针对pcb（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的x射线荧光测厚仪（xdlm-pcb200/pcb210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。

     江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

  x射线荧光光谱测厚仪原理

    一个内层电子而出现一个空穴，镀层测厚仪，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，涂层测厚仪，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。

     它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生x射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，测厚仪，x射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。 k层电子被逐出后，其空穴可以被外层中 任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为k系谱线:由l层跃迁到k层辐射的x射线叫kα射线，由m层跃迁到k层辐射的x射线叫kβ射线……。