光谱膜厚仪-一六仪器-泰安测厚仪

江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。

x射线荧光光谱仪是基于x射线荧光光谱法而进行分析的一种常见分析仪器。通常认为x区域0.01-10nm之间的一段电磁波谱，短波边以伽马射线为界，长波边与真空紫外线区域的实际界线。

x射线荧光光谱仪特点

1、一种真正--- 的无损分析，在分过程中不会改变样品的化学形态。具有不污染、节能低耗等优点。

2、分析速度快，无须进行样品预处理，升值无须样品的制备，x射线荧光光谱分析可以筛选大量的样品。一般情况下检测在3分钟以下。

3、自动化程度高。

4、可以同时测定样品中的多种元素。

5、随着分析技术的发展，仪器可以满足很多行业的需求。如：地质矿产，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、镀层等诸多行业。

6、样品的形态广。

7、x射线荧光光谱仪分为波长色散谱仪和能量色散谱仪可以满足各行个元素的需求。

8、x射线荧光光谱仪中的能量色散仪是低分辨率光谱仪已是在线分析的选择仪器之一。

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

常规镀层厚度分析仪的原理

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关和---中称为覆层（coating）。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程检测的重要一环，是产品达到优等标准的---手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，x射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。