光谱分析仪-测厚仪-一六仪器1

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

选择elite（一六仪器）x射线荧光镀层测厚仪理由：

   根据ipc规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量pcb板上的au/pd/ni/cu，因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用au，pd，ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，测厚仪，elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的au/pd/ni/base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以---镀层测量的准确性。

2、采用微---x射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微---x射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行测量。

3、elite（一六仪器）winftm---软件，具有---且界面友好、中英文切换，多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以word格式或excel格式输出、打印、保存。采用基本参数法（fp），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 elite（一六仪器）针对pcb（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的x射线荧光测厚仪（xdlm-pcb200/pcb210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。

江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，光谱分析仪，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

目前，金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析（gd-oes）和x射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层，逐层溶解并进行测定，荧光测厚仪，方法准确但费时费力，光谱膜厚仪，尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂，价格又贵，属于典型破坏性样品检测，测量手段手段繁琐，速度慢，电解液耗损大，目---般很少应用。gd-oes方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层，再用发射光谱测定，这种方法可实现剖面或逐层分析，但测量重复性并不理想。