亳州测厚仪-光谱膜厚仪-一六仪器(商家)

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器   x荧光光谱测厚仪 优点 

x射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。x射线激发源可用x射线发生器，荧光测厚仪，也可用性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器。探测器和记录等与x射线荧光光谱仪相同。

  x射线荧光光谱仪和x射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的x射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的x射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。广泛应用于电子元器件、led和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。

荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素量分析。但是由于影响荧光x射线的强度的因素较多，除待测元素的浓度外，镀层膜厚仪，仪器校正因子，待测元素x射线荧光强度的测定误差，元素间吸收增加效应校正，样品的物理形态（如试样的均匀性、厚度，表面结构等）等都对定了分析结果产生影响。由于受样品的基体效应等影响较大，因此，对于标注样品要求很严格，只有标准样品与实际样品集体和表面状态相似，才能---定量结果的准确性。