测厚仪-一六仪器有限公司-光谱膜厚仪

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

这些方法中---种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。x射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，镀层测厚仪，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，---是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，测厚仪，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且---，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。