镀层测厚仪-测厚仪-一六仪器1

江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

x射线荧光光谱分析仪结构及组成：用x射线照射式样时，试样可以被激发出各种波长的荧光x射线，电镀测厚仪，需要把混合的x射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的x射线的强度，以进行定性和定量分析，为此---的仪器叫x射线荧光光谱仪。由于x光具有一定的波长，同事又有一定能量，因此，x射线荧光光谱仪有2种基本类型：波长色散型（wd）和能量色散性（ed）。

波长色散型是由色散元件将不同波长的特征x射线衍射到不同的角度上，探测器需移动到想要的位置上来探测某---长能量的射线。而能量色散型，测厚仪，是由探测器本身的能量分辨本领直接探测x射线的能量。波长色散型谱线分辨本领高，而能量色散型可同时测量多条谱线的能量。

江苏一六仪器  涂镀层研发、生产、销售---企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

单镀层：zn， ni，cr，cu，ag，au，sn等。

双镀层：au/ni/cu，cr/ni/cu，镀层测厚仪，au/ag/ni，sn/cu/brass，等等。

三镀层：au/ni/cu/abs，au/ag/ni/cu，镀层分析仪， au/ni/cu/fe，等等

一、功能

1. 采用 x 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足

gb/t 16921-2005 标准（等同 iso3497：2000、 astm b568 和 din50987）。

2.  镀层层数：多至 5 层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约 0.2—0.8毫米。

4. 测量时间：通常 30 秒。

5. 测量误差：通常小于 5%，视样品具体情况而定。

6. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。