安庆测厚仪-一六仪器1-涂层测厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

选择elite（一六仪器）x射线荧光镀层测厚仪理由：

   根据ipc规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量pcb板上的au/pd/ni/cu，因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用au，pd，ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的au/pd/ni/base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以---镀层测量的准确性。

2、采用微---x射线管，涂层测厚仪，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微---x射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行测量。

3、elite（一六仪器）winftm---软件，具有---且界面友好、中英文切换，多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以word格式或excel格式输出、打印、保存。采用基本参数法（fp），荧光测厚仪，有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 elite（一六仪器）针对pcb（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的x射线荧光测厚仪（xdlm-pcb200/pcb210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。