光谱测厚仪-测厚仪-一六仪器1

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

x荧光测厚仪相关注意事项：

　　仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。

　　本仪器为精密仪器，配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(ups)。

　　仪器应---注意与存在电磁的场合隔离开来。

　　为避免短路，严禁仪器与液体直接接触，如果液体进入仪器，请立即关闭仪器。

　　本仪器不能用于酸性环境和场合。

　　不要弄脏和刮擦调校标准片，否则会造成读数错误。

　　不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物，测厚仪厂家，可以用不起毛的布轻轻擦拭。

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，膜厚测试仪，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

镀层厚度分析仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，光谱测厚仪，厚度差测量法，称重法，x射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中---种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

x射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆

层测厚时采用。