光谱膜厚仪-广东测厚仪-江苏一六仪器有限公司

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    2020-9-23

邓女士
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一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

x射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对x射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是x射线荧光分析仪。由原子物理学的知识,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的x射线照射下脱离原子的束缚,成为自由电子,这时原子被激发了,处于激发态。此时,其他的外层电子便会填补这一空位,即所谓的跃迁,镀层分析仪,同时以发出x射线的形式放出能量。

x射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的x射线的能量也是特定的,称之为特征x射线。通过测定特征x射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征x射线的强弱(或者说x射线光子的多少)则代表该元素的含量。








江苏一六仪器  x射线荧光镀层测厚仪

      电镀液测量杯整套含两个测量杯,可用于多品牌x-ray测厚仪上使用,高纯元素本底提高测量精度和检出限。电镀液测试样品杯,严格控制了容量和溢出物的处理,用来测试溶液中金属离子的浓度;使用方便简捷,无污染。

测试膜,又名x射线荧光光谱仪样品薄膜,迈拉膜,光谱膜厚仪,麦拉膜,xrf测试薄膜,xrf样品膜,样品薄膜,edx薄膜,edx样品薄膜,rohs检测膜,光谱仪样品薄膜;是应用于x荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在样本杯内的物质。---样品薄膜是使用方便简捷,无污染的测---样品薄膜,广泛应用于elite、fischer、牛津、博曼、先锋、日立、天瑞等各种品牌的edx/xrf光谱仪。





江苏一六仪器   x射线荧光镀层测厚仪

仪器简介

      xtu系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

 搭配微---射线管和---的光路设计,镀层膜厚仪,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。

    检测78种元素镀层·0.005um检出限·测量面积可达0.002mm2·深凹槽可达90mm。

     外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,广东测厚仪,速度10-30mm(x-y)/圈,再小再多的样品测试都没有难度,让操作人员轻松---。

应用领域


  线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

  镀纯金、k金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

  手表、精密仪表制造行业

  钕铁硼磁铁上的ni/cu/ni/fendb        

  汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

  卫浴产品、装饰把手上的cr/ni/cu/cuzn(abs)

  电镀液的金属阳离子检测







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