一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,led和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005umxiao测量面积0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
镀层厚度分析仪使用注意事项
1.仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。
2.镀层厚度分析仪为精密仪器,镀层分析仪,建议配备的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源(ups)。
3.镀层厚度分析仪应---注意与存在电磁的场合隔离开来。
4.仪器适合在10~40℃(50~104℉)的环境温度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间(非冷凝)。在操作过程中,环境温度和湿度应保持恒定。
5.仪器曝晒在阳光下时温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器,以避免高温对仪器造成损害。
6.为避免短路,严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器,东营测厚仪,请---关闭仪器并在重新使用前请---整体检查仪器。
7.镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和场合。
8.不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片,否则会造成读数错误。
9.不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果---的话,可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。
江苏一六仪器 x射线荧光光谱测厚仪
产品配置
x光金属镀层测厚仪标准配置为:x射线管,正比计数器﹨半导体探测器,高清---头,光谱膜厚仪,高度激光,信号检测电子电路。
性能指标
x射线激发系统 垂直上照式x射线光学系统
空冷式微---型x射线管,be窗
标准靶材:rh靶;任选靶材:w、mo、ag等
x射线管:管电压50kv,管电流1ma
可测元素:ci~u
检测器:正比计数管
样品观察:ccd---头
测定软件:薄膜fp法、检量线法
z轴程控移动高度 20mm
x-ray测厚仪特点
1,价格高,机种不同,价格在10万~100万左右,可测试p(磷)~u(---),并且支持rohs及元素分析功能等。
2,无损检测,windows操作系统,使用简便。操作快速,能适应多类镀层,大量检测,但体积较大,计算机除外约100000cm2,50000g左右。
3,测量厚度范围较广,
0.002um~100um左右,能测试5层以上膜厚,并且可以测量合金镀层,也可分析镀层元素和含量比。
4,测量精度高,光谱分析仪,1%左右,分辨率高,0.001um左右。
5,测头的面积较小,对需测的样品要求不高:0.1mmψ以下也可测量,基材厚度无要求。
6,可编程xyz测量台及大移动范围。
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