江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
x射线荧光光谱测厚仪定量分析
利用荧光x射线进行定量分析的时候，大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的荧光x射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光x射线，从而得到浓度值。
另一个方法是理论演算的基础参数法(fp法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光x射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光x射线强度的组成一致。
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
在我们的售前服务工作中，客户通常都会拿一些在其它机构或者仪器测量过的样品来与我们仪器进行测试结果对比，在确认双方仪器都是正常的情况下，会存在或多或少的差异，那么我们务---把这个差异的来源分析给客户，我们在分析之前首先要给客户解说测试的基本原理，告知此仪器为对比分析测试仪器，然后再谈误差来源，主要来源：
1、标样：对比分析仪器是要求有越接近于需测试样品的标样，荧光测厚仪，测试结果越接近实际厚度。确认双方有没有在标定和校正时使用标样？使用的是多少厚度的标样？
2、样品材料的详细信息：如ni/cu的样品，如果一家是按化学ni测试，一家是按纯ni测试；au/ni/cu/pcb样品，一款仪器受br干扰，一款仪器排除了br干扰。
3、测量位置、面积：确定在同一样品上测试的是否同一位置，因为样品在电镀时因电位差不同，各部位厚度是有差异的；确认两款仪器测量面积的大小有多少差异。
4、样品形状：测量的样品是否是两款仪器都可测量，或者放置位置是否合适，如---面有无挡住设备接收。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，安庆测厚仪，24种元素 厚度检出限:0.005um
江苏一六仪器 x射线荧光测厚仪工作原理
当原子受到x射线光子(原级x射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时出次级x射线光子，此即x射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，x射线荧光的波长对不同元素是特征的，光谱分析仪，根据元素x射线荧光特征波长对元素做定性分析，镀层分析仪，根据元素释放出来的荧光强度，来进行定量分析如元素厚度或含量分析。
根据色散方式不同，x射线荧光分析仪相应分为x射线荧光光谱仪(波长色散)和x射线荧光能谱仪(能量色散)。x射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级x射线。它由高压发生器和x光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的x射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的x射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将x射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。
江苏一六仪器(图)-荧光测厚仪-安庆测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器(图)-荧光测厚仪-安庆测厚仪是江苏一六仪器有限公司升级推出的，以上图片和信息仅供参考，如了解详情,请您拨打本页面或图片上的联系电话，业务联系人：邓女士。
联系我们时请一定说明是在100招商网上看到的此信息，谢谢！
本文链接：https://tztz229777a1.zhaoshang100.com/zhaoshang/213419617.html
关键词：
滇公网安备 53011202000392号