镀层分析仪-测厚仪-一六仪器1

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器  x射线荧光镀层测厚仪应用领域   

     集成电路是---首要突破的行业，现代制造业的发展，集成电路是基础。如果---电路板生产的，电镀检测重中之重！x射线荧光膜厚测厚仪为集成电路的发展，pcb线路板加工业的保驾---。价格一直是客户在购买时关心的问题，好和售后服务的产品在价格上面往往比较高，所以客户在选择产品时选择---的就需要一定的了解，首先是品牌，其次是客户调查，售后服务等。x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试，镀锡测试。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚，电镀膜厚仪，pcb线路板的镀银厚度分析。 的详细信息x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试，镀锡测试。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚，pcb线路板的镀银厚度分析。

      x射线荧光膜厚测厚仪已经成为电力行业，pcb行业，首饰行业的镀层分析的常规手段，比传统的电解法测厚仪具有更快的测试速度和分析精度，也比切片法具有更快的分析效率。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、外部结构原理图

x荧光做镀层分析时，镀层膜厚仪，根据射线是而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将x荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。

（二）、各种外部结构的特点

1、上照射方式

   用于照射(激发)的x射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，镀层分析仪，---测量的准确性。

、z轴的移动方式

   根据z轴的移动方式，分为自动和手动两类；

自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都---，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），测厚仪，一般只需要用鼠标在图像上---一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。

、x、y轴水平移动方式

水平移动方式一般分为：无x、y轴移动装置；手动x、y轴移动装置；电动x、y轴移动装置；全程控自动x、y轴移动装置。

这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无x、y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，定位比较容易的测试对象。