光谱分析仪-淄博测厚仪-一六仪器

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

选择elite（一六仪器）x射线荧光镀层测厚仪理由：

   根据ipc规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，光谱分析仪，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量pcb板上的au/pd/ni/cu，因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用au，pd，涂层测厚仪，ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的au/pd/ni/base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以---镀层测量的准确性。

2、采用微---x射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微---x射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行测量。

3、elite（一六仪器）winftm---软件，具有---且界面友好、中英文切换，镀层膜厚仪，多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以word格式或excel格式输出、打印、保存。采用基本参数法（fp），淄博测厚仪，有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 elite（一六仪器）针对pcb（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的x射线荧光测厚仪（xdlm-pcb200/pcb210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

工业x射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点，已在冶金、建材、地质、、商检、考古、医学等领域得到迅速推广和应用。近几年来x射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。众所周知，产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素x射线荧光分析方法，能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求，并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。