一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
x荧光镀层测厚仪标准片选择与使用
1．一般要求
使用---的参考标准块校准仪器。后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。
参考标准块应具有的已知单位面积或厚度的均匀的覆盖层，测厚仪厂家，如果是合金，测厚仪，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积）的标准块，将是---的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。
金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意---接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。
2．标准块的选择
可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，光谱测厚仪，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。
3．标准块的x射线发射（或吸收）特性及使用
校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的x射线发射（或吸收）特性。
如果厚度由x射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的x射线发射特性，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，然后通过软件达到对仪器的校正。
江苏一六仪器 x射线荧光镀层测厚仪 元素分析范围：氯（ci）- ---（u）
厚度分析范围：各种元素及有机物
x射线荧光镀层测厚仪（国产）是一款针对金属电镀层（镀金、镀镍、镀锌、镀锡等）厚度的，通过x荧光照射出产品，每个元素反射出的二次特征谱线，通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度，完全达到无损、快速分析的效果，产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业（铝平行管、电镀五金），连接器企业、开关企业等。
x射线荧光镀层测厚仪---势
采用高度定位激光，荧光测厚仪，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，---测试点与光斑对齐
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高分辨率探头使分析结果---
---的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
鼠标可控制移动平台，鼠标---的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
一次可同时分析多达五层镀层
度适应范围为15℃至30℃
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
分析含量一般为2ppm到99.9%
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
x荧光镀层测厚仪金属成分含量的测定
在包含某种元素1的样品中，照射一次x射线，就会产生元素1的荧光x射线，不过这个时候的荧光x射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多，荧光x射线的强度就会变强。注意到这一点，如果预先知道已知浓度样品的荧光x射线强度，就可以推算出样品中元素1的含量。采用定量分析的时候，可以在样品中加入高纯度的二氧化硅，作为参比样，并且掺量是已知的。这样可以间接知道其他组分的含量。
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