湖州测厚仪-测厚仪厂家-一六仪器(商家)

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x射线荧光是由原级x射线照射待测样品时所产生的次级x射线，入射的x射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。x射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124kev-0.124kev之间。用于元素分析中的x射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，测厚仪厂家，能量为0.111-0.124kev。

   当x射线激发出试样特征x射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征x射线。

江苏一六仪器有限公司   x射线荧光光谱测厚仪

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---势：

  下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

  无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽---范围0-90mm。

  微---射线装置：可检测面积小于0.002m㎡的样品，可测试各微小的部件。