光谱膜厚仪-测厚仪-一六仪器1

仪一六仪器 快速---分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统，电镀膜厚仪，---的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析，

微---射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件.

测厚仪分类：

一、磁性式

二、涡电流式

三、红外测厚仪

四、电解式（库伦法）

五、金相测试法

六、非破坏荧光式（x光）

1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，光谱膜厚仪，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。