光谱膜厚仪-测厚仪-江苏一六仪器

仪一六仪器 快速---分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统，---的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析，

微---射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件.

测厚仪分类：

一、磁性式

二、涡电流式

三、红外测厚仪

四、电解式（库伦法）

五、金相测试法

六、非破坏荧光式（x光）

1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

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膜厚仪又名膜厚测试仪分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光x射线仪镀层测厚仪。

手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

台式的荧光x射线膜厚仪，是通过一次x射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。