济宁测厚仪-一六仪器有限公司-膜厚测试仪

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

这些方法中---种是有损检测，济宁测厚仪，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。x射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，---是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且---，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，光谱测厚仪，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

江苏一六仪器   x荧光光谱测厚仪 特点

快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。

方便：x荧光光谱仪部分机型采用进口国际上---的电制冷半导体探测器，能量分辨率---于135ev，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用方便，光谱分析仪，并且运行成本比同类的其他产品---。

无损：测试前后，样品无任何形式的变化。

直观：实时谱图，可直观显示元素含量。

测试范围广：x荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析，抽真空可以测试从na到u。

---性高：由于测试过程无人为干扰因素，仪器自身分析精度、重复性与稳定性---。所以，膜厚测试仪，其测量的---性更高。

满足不同需求：测试软件为windows操作系统软件，操作方便、功能---，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种---的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

---：相比化学分析类仪器，x荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。

简易：对人员技术要求较低，操作简单方便，并且维护简单方便。