荧光测厚仪-测厚仪-一六仪器

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

xtu-a、xtu-50a：五金产品、紧固件、汽车配件、卫浴等，测量面积大于?0.2mm的产品

?xtu-bl：主要针对线路板等大平面，但是需要测试?0.1mm以下，且求购仪器预算较低的客户。

?xtu-50b、xtu-4c：可测试小至?0.05mm测量面积，且搭载的精密移动平台和变焦镜头（xtu全系列都含有）能满足各种需求。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

工业x射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点，已在冶金、建材、地质、、商检、考古、医学等领域得到迅速推广和应用。近几年来x射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。众所周知，产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素x射线荧光分析方法，能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求，并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。