光谱膜厚仪-一六仪器-聊城测厚仪

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    2020-10-29

邓女士
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一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

用转移法测量塑胶产品上涂层时注意事项:

由于对塑胶产品上涂层的测量,如使用超声波发测量时,经常因涂层与基材发生相溶而没有较好的声波反射面,从而导致测量失败或读值---偏差。如使用切锲法,镀层分析仪,也多有使用不方便和读数困难的地方。所以目前便携式电子产品生产厂普遍使用转移法测量塑胶产品上涂层,先在产品上盖若干小条标准厚度的聚酯薄膜,再用纸基美纹胶压住两头,留出中间部分。将该产品放入喷涂线上正常喷涂、烘烤。








江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

x射线荧光光谱分析仪结构及组成:用x射线照射式样时,光谱膜厚仪,试样可以被激发出各种波长的荧光x射线,需要把混合的x射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的x射线的强度,以进行定性和定量分析,为此---的仪器叫x射线荧光光谱仪。由于x光具有一定的波长,同事又有一定能量,因此,x射线荧光光谱仪有2种基本类型:波长色散型(wd)和能量色散性(ed)。

波长色散型是由色散元件将不同波长的特征x射线衍射到不同的角度上,探测器需移动到想要的位置上来探测某---长能量的射线。而能量色散型,是由探测器本身的能量分辨本领直接探测x射线的能量。波长色散型谱线分辨本领高,而能量色散型可同时测量多条谱线的能量。


一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,led和照明,聊城测厚仪,家用电器,通讯,光谱分析仪,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

能量色散x荧光光谱仪定义及原理

x射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行快速同时测定的仪器。试样受x射线照射后,其中各元素原子的内壳层(k,l或m层)电子被激发逐出原子而引起电子跃迁,并发射出该元素的特征x射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征x射线。能散型x射线荧光光谱仪(edxrf)利用荧光x射线具有不同能量的特点,由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的x射线。


光谱膜厚仪-一六仪器(在线咨询)-聊城测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司是江苏 苏州 ,---仪器仪表的企业,多年来,公司贯彻执行科学管理、---发展、诚实守信的方针,满足客户需求。在一六仪器---携全体员工热情欢迎---垂询洽谈,共创一六仪器美好的未来。


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