涂层测厚仪-测厚仪-一六仪器

一六仪器  ---通力合作打造---x荧光测厚仪  

一六仪器研发生产的x荧光光谱仪，稳定的多道脉冲分析采集系统，---------和变距设计，多元efp算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

涂层测厚仪操作规程有哪些

   我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至---的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：

  一、技术参数

  采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，测厚仪，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

  测量范围：（0~1250）μm（f1、n1测头），f10测头可达10mm；

  分辨率：0.1μm（f1、n1测头）

  示值精度：±（3％h+1）μm；h为被测涂层厚度

  显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度el背光；

  存储容量：可存储20组（每组多50个测量数值）测量数据

  单位制：公制μm、英制（mil）、可自由转换 ? 工作电压：3v（2节5号碱性电池）

  持续工作时间：大于200小时（不开背光灯）

  通讯接口：usb1.1，涂层测厚仪，可与pc机连接、通讯

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x射线荧光是由原级x射线照射待测样品时所产生的次级x射线，入射的x射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。x射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124kev-0.124kev之间。用于元素分析中的x射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124kev。

   当x射线激发出试样特征x射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征x射线。