一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,镀层膜厚仪,led和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
测试面积是测厚仪器的一项很重要的参数,主要由准直器控制组成,但也受其它条件---:
1、受高压、光管---,因为需要这两装置提供足够荧光强度和---。
2、受仪器结构---,荧光测厚仪,相同的准直器因安装的位置及与探测器的角度都影响测量面积,同样是直径0.2mm准直器thick800a测量面积达到直径0.4mm,edx1800b测量面积达到直径0.5mm,光谱膜厚仪,cmi900测量面积达到0.3mm,而xtu-a面积可以达到0.218.
江苏一六仪器 xtu系列 xtu-bl x荧光光谱仪
仪器规格:
外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (长x宽x高)
样品仓尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (长x宽x高)
仪器重量 :55kg
供电电源 :交流220±5v
功率 :330w
环境温度:15℃-30℃
环境相对湿度:<70%
edx是借助于分析试样发出的元素特征x射线波长和强度实现的, 根据不同元素特征x射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常edx结合电子显微镜使用,可以对样品进行微区成分分析。
常用的edx探测器是硅渗锂探测器。当特征x射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离,产生若干电子-空穴对,其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对,经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器,并计数能谱中每个能带的脉冲数。
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一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
(一)、内部结构
x荧光光谱测厚仪机型很多,但是其内部结构如果先天不足,后期的外部结构无论自动化多高,也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点:
1、x荧光发射和ccd观测是否同步和垂直?
2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离?
3、x光照射面积从出口到样品的扩散情况。
(二)、各种内部结构的优缺点
1、x荧光发射和ccd观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置,才能---定位---,安徽测厚仪,同时减少与探测器或计数器的夹角,夹角小测试时
受样品曲面或者倾斜影响小。
2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件,同时也---好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦
补偿射线的算法。
3、x光照射面积从出口到样品的扩散过于---会导致无法测试样品工件上较小的平面位置,如果减小出口(准直器直径),又会---耗损x光的强度。
因此一台此类仪器的小准直器不是关键,但是测试面积却是个重要的指标。
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