光谱膜厚仪-一六仪器-江苏测厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器   x荧光光谱测厚仪 优点 

x射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。x射线激发源可用x射线发生器，也可用性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器。探测器和记录等与x射线荧光光谱仪相同。

  x射线荧光光谱仪和x射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的x射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的x射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

江苏一六仪器    x射线荧光光谱测厚仪

产品配置

x光金属镀层测厚仪标准配置为：x射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清---头，高度激光，镀层分析仪，信号检测电子电路。

性能指标

x射线激发系统 垂直上照式x射线光学系统

空冷式微---型x射线管，be窗

标准靶材：rh靶；任选靶材：w、mo、ag等

x射线管：管电压50kv，管电流1ma

可测元素：ci～u

检测器：正比计数管

样品观察：ccd---头

测定软件：薄膜fp法、检量线法

z轴程控移动高度 20mm