测厚仪厂家-测厚仪-一六仪器

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    2020-11-26

邓女士
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一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|x-ray测厚仪|x荧光测厚仪|凃层膜厚仪

---势:

 下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。

 无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽---范围0-90mm。

 微---射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。

 率的jie shou qi :即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。

 精密微型滑轨:快速---定位样品。

 efp---算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒efp算法软件。

测厚仪和膜厚仪一样吗

测厚仪的原理:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量,当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

膜厚仪:属于测厚仪的一种,膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度,手持式的有涂层测厚仪,为磁阻法和电涡流原理,台式的不同原理也有好多种,电感原理等。












能量色散x射线荧光光谱仪技术原理


江苏一六仪器  ---通力合作打造---x荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,---------和变距设计,多元efp算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

能量色散x射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级x射线。

它由高压发生器和x光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的x射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。

能量色散x射线荧光光谱仪技术原理

能量色散x射线荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射,凡间是指能t局限在0.1^-100kev的光子。能量色散x射线荧光光谱仪与物质的互相效果首要有荧光、接收和散射三种。

能量色散x射线荧光光谱仪是由物质中的构成元素发生的特征辐射,测厚仪厂家,经过侧里和剖析样品发生的x射线荧光,即可获知样品中的元家构成,获得物质成分的定性和定量信息。



江苏一六仪器有限公司是一家光谱分析仪器研发、生产、销售的企业。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,光谱膜厚仪,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。欢迎咨询联系!

如何选择测厚仪的测点

 如何选择测厚仪的测点位置?我们想要使用测厚仪测量物品厚度,前提是有测点位置,相当于我们的需要选择一个固---为零值一样,测厚仪,如此才能够测量出具体厚度。

 1、钢结构柱、梁,在构件长度方向内每隔1m取一截面,测试构件各表面的涂层厚度,计算所有测点的平均值作为该根构件的涂刷厚度.

   2、桁架结构、梁,在上、下弦和腹杆的长度方向内每隔1m取一个截面,测定杆件各表面的涂层厚度,计算所有测点的平均值作为该根构件的涂层厚度.顶板和钢楼梯,在每平方范围内选取5个点进行测定,计算所有测点的平均值作为该构件的涂层厚度.



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