镀层分析仪-测厚仪-江苏一六仪器有限公司

江苏一六仪器   x荧光光谱测厚仪 特点

快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。

方便：x荧光光谱仪部分机型采用进口国际上---的电制冷半导体探测器，能量分辨率---于135ev，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用方便，并且运行成本比同类的其他产品---。

无损：测试前后，镀层分析仪，样品无任何形式的变化。

直观：实时谱图，可直观显示元素含量。

测试范围广：x荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析，抽真空可以测试从na到u。

---性高：由于测试过程无人为干扰因素，仪器自身分析精度、重复性与稳定性---。所以，其测量的---性更高。

满足不同需求：测试软件为windows操作系统软件，操作方便、功能---，电镀膜厚仪，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种---的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，测厚仪，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

---：相比化学分析类仪器，x荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。

简易：对人员技术要求较低，操作简单方便，并且维护简单方便。

江苏一六仪器    x射线荧光光谱测厚仪

产品配置

x光金属镀层测厚仪标准配置为：x射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清---头，高度激光，光谱测厚仪，信号检测电子电路。

性能指标

x射线激发系统 垂直上照式x射线光学系统

空冷式微---型x射线管，be窗

标准靶材：rh靶；任选靶材：w、mo、ag等

x射线管：管电压50kv，管电流1ma

可测元素：ci～u

检测器：正比计数管

样品观察：ccd---头

测定软件：薄膜fp法、检量线法

z轴程控移动高度 20mm