常州测厚仪-光谱膜厚仪-一六仪器(商家)

江苏一六仪器   x荧光光谱测厚仪 特点

快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。

方便：x荧光光谱仪部分机型采用进口国际上---的电制冷半导体探测器，能量分辨率---于135ev，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用方便，并且运行成本比同类的其他产品---。

无损：测试前后，样品无任何形式的变化。

直观：实时谱图，可直观显示元素含量。

测试范围广：x荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析，荧光测厚仪，抽真空可以测试从na到u。

---性高：由于测试过程无人为干扰因素，仪器自身分析精度、重复性与稳定性---。所以，其测量的---性更高。

满足不同需求：测试软件为windows操作系统软件，光谱膜厚仪，操作方便、功能---，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种---的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

---：相比化学分析类仪器，x荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。

简易：对人员技术要求较低，操作简单方便，并且维护简单方便。

x-ray测厚仪特点

1，价格高，机种不同，价格在10万~100万左右，可测试p（磷）~u（---），常州测厚仪，并且支持rohs及元素分析功能等。

 2，无损检测，windows操作系统，使用简便。操作快速，能适应多类镀层，大量检测，涂层测厚仪，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。

3，测量厚度范围较广，

0.002um~100um左右，能测试5层以上膜厚，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。

4，测量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

5，测头的面积较小，对需测的样品要求不高：0.1mmψ以下也可测量，基材厚度无要求。

6，可编程xyz测量台及大移动范围。