一六仪器-------镀层测厚仪|光谱测厚仪|x-ray测厚仪|x荧光测厚仪|凃层膜厚仪
x射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些
首先，是x射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。x射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源出x射线，通过x射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的准确度造成一定的影响。安装的位置不当就会使测量的精度不准确波动比较明显。另外，南通测厚仪，x射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量精度。
影响涂层测厚仪---度的因素有哪些
影响涂层测厚仪---度的因素有哪些？生产产品过程中，可能就因为一点点的误差，可能这批产品就成了报废品，光谱测厚仪，而这种情况在批量生产的厂家中为常见，也是需要注意的一个点。因此我们也就得对影响涂层测厚仪---度的因素有所了解了。
(2)强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万v左右的电磁场附近工作时，测量会受到---的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
(3)人为因素。这中情况经常会发生在新用户的身上。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。
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江苏一六仪器有限公司研发的能量色散x荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，镀层膜厚仪，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！
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