镀层分析仪-舟山测厚仪-江苏一六仪器

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|x-ray测厚仪|x荧光测厚仪|凃层膜厚仪

---势：

 下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

 无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽---范围0-90mm。

 微---射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

 率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，舟山测厚仪，几秒钟也能达到稳定性。

 精密微型滑轨：快速---定位样品。

 efp---算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒efp算法软件。

测厚仪和膜厚仪一样吗

测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

膜厚仪：属于测厚仪的一种，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，台式的不同原理也有好多种，电感原理等。

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x射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

第二，在x射线测厚仪通过施加高压释放出x射线时，x射线途经环境的温度湿度也会影响x射线对被测物体的测量。尤其是在热轧的过程中，测量的空间大x射线途经的环境就比较大，当温度高时，测量值减小，当温度低时，测量值则增加。

第三，电镀测厚仪，在测量过程中，被测物体上，可能会有附着物，也会影响测量的精度。比如，在轧制生产中，测量的钢板上可能会附着着水、油或者氧化物，这都会对x射线测厚仪的测量值造成影响，出现误差。另外，光谱分析仪，被测量的物体，可能会上下跳动，偏离测量时的位置，这种倾斜也会影响测量的精度。