镀层分析仪-盐城测厚仪-一六仪器有限公司

一六仪器  ---通力合作打造---x荧光测厚仪  

一六仪器研发生产的x荧光光谱仪，稳定的多道脉冲分析采集系统，---------和变距设计，多元efp算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

仪器规格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

   样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

   仪器重量 ：55kg

   供电电源 ：交流220±5v

    zui da功率 ：330w

   环境温度：15℃-30℃

   环境相对湿度：<70%

涂层测厚仪操作规程有哪些

   我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至---的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：

 一、操作注意事项

  1. 如果在测量中测头放置不稳，会引起测量值与实际值偏差较大；

  2.  如果已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差 范围内；

  3. 仪器的任何一个测量值都是五次看不见的测量平均值；

  4.  为使测量准确，可在一个点多次测量，并计算其平均值作为 终的测量结果；

  5.  显示测量结果后，光谱分析仪，一定要提起测头至距离工件10mm以上，镀层分析仪，才可以 进行下次测量。

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|x-ray测厚仪|x荧光测厚仪|凃层膜厚仪

---势：

 下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

 无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽---范围0-90mm。

 微---射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

 率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

 精密微型滑轨：快速---定位样品。

 efp---算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒efp算法软件。

测厚仪和膜厚仪一样吗

测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

膜厚仪：属于测厚仪的一种，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，台式的不同原理也有好多种，电感原理等。