一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,led和照明,家用电器,通讯,涂层测厚仪,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
上照式:通常都有z轴可移动,所以可对形状复杂的样品(如凹面内)做定位并且测试,一般可定位到2mm以内的---,台州测厚仪,如thick800a,另外有些厂商在此基础上配备了可变焦装置,搭配---的算法,可定位到80mm以内的---,如xdl237
下照式:通常都没有z轴可移动,所以不可对凹面等无法直接接触测试窗口的位置进行定位并测试,但操作简单,造价相对低;部分厂商或款式仪器搭载变焦装置也可测试复杂形状样品,同时也抬高了价格
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的---企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们---研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名---通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
x荧光涂镀层测厚仪测试原理
同样,l层电子被逐出可以产生l系辐射。如果入射的x 射线使某元素的k层电子激发成光电子后l层电子跃迁到k层,此时就有能量δe释放出来,且δe=ek-el,这个能量是以x射线形式释放,产生的就是kα 射线,同样还可以产生kβ射线 ,l系射线等。莫斯莱(h.g.moseley) 发现,荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关,其数学关系如下: λ=k(z-s)-2 这就是莫斯莱定律,式中k和s是常数,因此,只要测出荧光x射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光x射线定性分析的基础。此外,荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
x荧光测厚仪相关注意事项:
仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。
本仪器为精密仪器,电镀测厚仪,配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(ups)。
仪器应---注意与存在电磁的场合隔离开来。
为避免短路,严禁仪器与液体直接接触,如果液体进入仪器,请立即关闭仪器。
本仪器不能用于酸性环境和场合。
不要弄脏和刮擦调校标准片,否则会造成读数错误。
不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物,可以用不起毛的布轻轻擦拭。
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