盐城测厚仪-一六仪器1-镀层膜厚仪

   江苏一六仪器有限公司  镀层测厚检测   欢迎来电详询！ 

  x射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。x射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征x射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散x射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行---的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，---适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛，盐城测厚仪，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

用转移法测量塑胶产品上涂层时注意事项：

由于对塑胶产品上涂层的测量，如使用超声波发测量时，经常因涂层与基材发生相溶而没有较好的声波反射面，从而导致测量失败或读值---偏差。如使用切锲法，也多有使用不方便和读数困难的地方。所以目前便携式电子产品生产厂普遍使用转移法测量塑胶产品上涂层，镀层膜厚仪，先在产品上盖若干小条标准厚度的聚酯薄膜，再用纸基美纹胶压住两头，留出中间部分。将该产品放入喷涂线上正常喷涂、烘烤。