光谱测厚仪-一六仪器1-嘉兴测厚仪

一六仪器x射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质---

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散x荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！

当x射线激发出试样特征x射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征x射线。

x射线的激发

   如果要得到某元素的特征x射线，需要对元素原子内层电子进行激发，电镀膜厚仪，使得内层电子获得一定能量，能够脱离原子核的束缚，从而在内层轨道形成电子空穴，当较高能级电子填补这一空穴时，才会发射一定能量的特征x射线，这个过程就是x射线的激发。

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|x-ray测厚仪|x荧光测厚仪|凃层膜厚仪

---势：

 下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

 无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽---范围0-90mm。

 微---射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，嘉兴测厚仪，可测试各微小的部件。

 率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

 精密微型滑轨：快速---定位样品。

 efp---算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒efp算法软件。

测厚仪和膜厚仪一样吗

测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，镀层测厚仪，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

膜厚仪：属于测厚仪的一种，光谱测厚仪，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，台式的不同原理也有好多种，电感原理等。