光谱测厚仪-一六仪器-盐城测厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- ---(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，光谱测厚仪，24种元素   厚度检出限:0.005um

工业x射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点，已在冶金、建材、地质、、商检、考古、医学等领域得到迅速推广和应用。近几年来x射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。众所周知，产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素x射线荧光分析方法，能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求，并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，盐城测厚仪，---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

x荧光镀层测厚仪标准片选择与使用

1．一般要求

   使用---的参考标准块校准仪器。后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。

   参考标准块应具有的已知单位面积或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积）的标准块，将是---的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，测厚仪厂家，但应当已知。

金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意---接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。

2．标准块的选择

可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。

3．标准块的x射线发射（或吸收）特性及使用

   校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的x射线发射（或吸收）特性。

如果厚度由x射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的x射线发射特性，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，然后通过软件达到对仪器的校正。