光谱测厚仪-测厚仪-一六仪器1

一六仪器x射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质---

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散x荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、---的解谱方法和efp算法结合---定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，光谱测厚仪，欢迎来电咨询！

当x射线激发出试样特征x射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征x射线。

x射线的激发

   如果要得到某元素的特征x射线，需要对元素原子内层电子进行激发，使得内层电子获得一定能量，能够脱离原子核的束缚，从而在内层轨道形成电子空穴，当较高能级电子填补这一空穴时，才会发射一定能量的特征x射线，膜厚测试仪，这个过程就是x射线的激发。

江苏一六仪器  x射线荧光光谱测厚仪研发生产厂  一六仪器一liu品质  可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟，欢迎来电咨询!

仪器规格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

   样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

   仪器重量 ：55kg

   供电电源 ：交流220±5v

  zui da功率 ：330w

   环境温度：15℃-30℃

   环境相对湿度：<70%

常见几种测厚仪的工作原理是什么？测厚仪，英文名称为thickness gauge ，是一类用来测量材料及物体厚度的仪表，在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度。那么我们常见的几种测厚仪的工作原理是什么？下面就来了解下：

      1、测厚仪原理--激光测厚仪

      激光测厚仪：此类测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。